在纳米尺度表征中，开尔文探针力显微镜（KPFM）、压电力显微镜（PFM） 和导电原子力显微镜（C-AFM） 是研究材料电学与力学性能的核心技术。
· KPFM 用于无损测量样品表面的表面电势 或功函数，广泛应用于太阳能电池、半导体器件和腐蚀研究。其关键是保持探针-样品间距稳定，并避免表面污染对电势测量的干扰。
· PFM 通过检测探针在交变电场下的微幅振动，来表征材料的压电效应 和铁电畴结构。测试时需注意施加的交流电压不宜过高，以免畴壁发生不可逆翻转，同时要排除静电力的干扰。
· C-AFM 则在接触模式下，同时获取表面形貌和局部电流分布图。核心注意事项是必须使用导电探针，并严格控制接触力，以避免划伤样品或损坏探针，同时需警惕高电流导致的样品击穿。
通用注意事项： 这三种技术均要求在可控环境（如湿度、振动）下进行，并需根据样品特性（硬度、导电性）谨慎选择探针类型与测试参数，以确保数据的准确性与可重复性。
