原位XRD技术早在20世纪60年代就已运用到材料科学研究中，主要用于对物质的组成和结构进行鉴定和研究：
（1）原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息（温度、压力、气氛、电化学等），可以深入的认识材料在实验过程中实时发生的反应，对如何进一步改进材料/了解反应机理和变化具有重要的指导意义；
（2）原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，由于原位XRD技术在测试的整个过程中是针对同一材料的相同位置进行测试，因而通过该测试手段所得到的信息（晶胞参数、峰强度等参数）具有相对可比性，可以得到一系列实时的结构变化信息。
此外，根据X射线光源的不同，可以将原位XRD技术分为以下两类：
（1）普通原位XRD技术：可以在实验室衍射仪的基础上进行改造，操作简单方便；
（2）同步辐射原位XRD技术：采用同步辐射光源作为衍射源，由于同步辐射光源亮度极高，单色性好，因此可以缩短测量时间并获得高质量的测量结果。
