X射线吸收谱（XAFS）

X射线吸收精细结构（XAFS）技术是同步辐射非常重要的一种应用。XAFS能够精确分析物质的原子级局部结构信息。当X射线照射物质时，原子会吸收特定能量的X射线，吸收系数在特定位置会出现突跃，称为吸收边。吸收边附近及其高能段的精细结构波动，即XAFS谱图，蕴含着丰富的结构信息。